薄膜测厚仪型号:ME04-C1216M薄膜测厚仪型号:ME04-C1216M 一、 方案概述 该方案根据隔膜产品厚度测试常规方式编写,提供的薄膜厚度仪满足日常厚度测量要求,同时满足国标(GBT 6672-2001)规定的要求。薄膜厚度仪方案为多个部件的组合件,产品主要由C1216M 主机及其附属件(整套系统由数显箱,传感器测头,工作台架和提升装置及接口软件)组成。 该套方案旨在满足用户隔膜产品厚度检测要求,实现厚度检测功能。 二、基本要求 薄膜测厚仪主要用于对薄膜产品进行厚度检测。 使用地点:厂房检验室 实验环境:温度 20±2℃ 湿度 50±5% 基本性能应满足以下要求: 1、测量厚度范围:>3um 2、测量精度:0.01um 3、产品在使用过程中不能出现任何安全事故,性能可靠,能长周期运行。 4、测试软件,能够在测试过程中直观显示测试数据(数据传输至EXCEL表格或其他用户位置),可用于后续统计分析。 三、 薄膜测厚仪参数描述 薄膜厚度仪相关组件规格及参数如下: 结构及设计特点 整套系统由数显箱,传感器测头,工作台架和提升装置组成 数显箱(C1216M)特性: a, 数显箱采用LCD 显示,带模拟指针显示和两行数字显示 b, 5 个三色灯用于差和处于公差极*的报警 c, 静态测量: ± A, ± B 和所有组合 d, 动态测量:值,小值,极差值,极和值,平均值 e, 可通过按键或R232 接口连接设置软件进行相关的设置与编程 -传感器测头特性: a, 测量范围±2mm b, 通过提升装置实现抬升功能 c, 测力标准为0.75N d, 测量精度:0.05um(±0.1mm 范围内)
工作台架(820FC)特性: a, 工作范围0-110mm b, 底座由淬硬不锈钢制成 c, 支撑杆为不锈钢材质
传感器测头(1301)特性: 工作量程:±1mm 支持手动提升线提升 测量误差: 0.5μm(±0.5mm 量程范围内) 1μm(±1mm 量程范围内) 样品种类(仪器适用的分析样品种类) 薄膜等 仪器的测量范围 量程±1mm 仪器的分辨率 0.01μm 温度(或其它参数)范围 工作于室温状态 仪器配置的主要附件及规格 见配置清单 测试的重复性误差fw 0.1μm 键盘和显示 LED 屏幕显示 水、电、气等外部条件要求 220V,50Hz,11W 外形尺寸 数显箱:205mm x 160 mm x 165 mm 工作台架:155 mm x 100 mm x 216.5 mm 重量 数显箱:2.1Kg 工作台架:2.6Kg 整套系统(数显箱,传感器测头,工作台架和提升装置) |