数字集成电路多值逻辑测试仪 库存：M264585 数字集成电路多值逻辑测试仪 库存：M264585
数字集成电路多值逻辑测试仪 ◆利用的多值比较法对器件进行快速的参数和功能综合测试。 ◆ 用户可按不同的要求选择测试模式，对器件进行直流参数测试。以区分IC品质，快速分选。实用。经该产品测试过的器件，可以放心地上机使用，解决产品质量问题。 ◆数字IC功能参数测试仪。操作简便，测试成本低廉，实用。 产品主要性能: 在功能测试的基础上 测试器件的输人端注人电流。 测试器件的输人端交叉漏电流。 测试器件的输出端“三态"及“OC"门。 测试器件的输出负载电流。 测试器件的功耗电流。 查找未知芯片型号。 可以单次测试，也可以循环测试. 可自动识别74系列中的CMOS器件 (如: 74C、74HC、74HCT等)。 当被测芯片被确认为74系列CMOS器件时，仪器将自动地对其进行测试并在显示屏前显示一一个“C"字(此时被测器件电 源为TTL电源)。 本产品所提供的多值测试参数: 8种可选择的测试电源。 根据不同材料的IC设置多种输入端注入电流。 多种测试电压比较值。 功耗测试。 以上参数的不同组合构成不同的测试模式，其中包括用户自定义模式及全组合测试模式。 测试模式: 模式O:全组合参数测试。 模式1-C:操作与模式0相同，但各有其不同的测试参数数值。 模式D:任选输人负载电流及测试电源和输人电流测试。 模式E:自检。内容包括部分，显示、键盘及测试管脚电路。
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