双色红外测温仪 库存 库号:M209064 双色红外测温仪 库存 库号:M209064
可用现场有烟雾、颗粒物、蒸汽、视场部分遮 挡,以及高速移动目标物体的温度测量 温度测量范围600 3000 - ℃ 响应速度小于10ms 30 DIT DIKAI V2 6 单色,双色测量模式供选择 同时模拟和数字输出 可编程继电器输出 支持多达 台 系列测温仪的多点网络 . 数据采集软件及现场校准软件 比色测温仪: 采用双色测温方法,即通过目标 物体辐射的两个红外波段的能量比值来确定被测物体的 温度。因测量结果取决于两个波段辐射功率之比,所 以,辐射能量的部分损失对测量结果没有影响。可克服 传输介质有灰尘、烟雾、水汽,视场局部遮挡和测量距 离变化造成的辐射能量衰减而引起的测量误差,特别适 用于相对恶劣的测温环境。 金属热加工过程中,金属表面不可避免会快速氧化 形成氧化层,氧化层会随温度变化脱落或者皴裂(例如 轧钢线),皴裂氧化皮和金属本体形成间隙,使得 氧化层的温度低于金属本体温度。比色测温仪可以很好 的克服因此引起的测量误差。使得工艺数据且 离散性小,便于工艺分析。 比色测温对于真空或保护气体加热系统也具有较强 的,可以克服玻璃窗口材料引起的测量误差,让测 量值接近真值。 比色测温仪具有目视瞄准系统,非常方便用户 安装及实时查看测温仪是否对准目标。对于密封环境的 测量系统,目视瞄准还可以作为炉内工况的观察窗口。 比色测温仪具有丰富的功能,实时高亮温度测 量值显示,用户可选测量方式,测量模式,测温速度, 输出规格设置。满足客户各种现场使用需求。人机 交互简单,方便。 单色温度计在使用过程中,会遇到以下几种原因引 起的测量误差: 、材料氧化表面状态发生改变,或者 氧化物和原始材料开裂而引起较大的测量误差。 、材 料本身发射率较低而引起的测量误差。 、测量环境恶 劣(粉尘,烟雾,水蒸气等)而引起的测量误差。 、 测量孔径不能满足测温仪的视场需求而引起的测量 误差。 量程范围 DITH1 600-1400℃ DITH2 800-1800℃ DITH3 1000-3000℃ 探测器 Si0.4-1.1µm/Si 0.8-1.1µm 测量精度 ±0.75%(FS) 测量精度 0.2% ± 温度分辨力1℃ 响应时间 5ms ≤ 发射率调整 0.80 to 1.10 (0.01) tow-color 0.10 to 1.00(0.01) one-color 现场参数 280:1 2mm@560mmDITH1,DITH2,DITH3 防护等级 IP65 工作温度 0 to 65℃ 存储温度 -20-70℃ 相对湿度 抗冲击 GB/T2423.1,GB/t2423.2 抗扰标准 JB/T9233.11-1999 重量 600g
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