两探针电阻率测试仪 库存 库号:D291339 两探针电阻率测试仪 库存 库号:D291339
参照标准: GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法-方法2直流两探针法; SEMI MF 397-1106<<硅棒电阻率测定两探针法>> 参数 资料 1.电阻率:10^-7~2×10^7Ω-cm 2.电 阻:10^-7~2×10^7Ω 3.电导率:5×10^-7~10^7s/cm 4.分辨率: 0.1μΩ 测量误差±(0.05%读数±5字) 5.测量电压量程: 2mV 20mV 200mV 2V 测量精度±(0.1%读数) 6.分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV 7.电流输出:直流电流 0~1000mA 连续可调, 量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA, 误差:±0.2%读数±2字 8.显示方式:液晶显示:电阻值、电阻率、电导率值、温度、单位自动换算、横截面、高度、电流、电压等. 9.温度要求:23℃±1℃ 10.电源:220±10% 50HZ/60HZ 11. 测量平台参数如下: 1).可测硅芯、检验棒尺寸:直径4~22㎜ (其他规格可定制) 2).探针头探针与试样接触位置重复,无横向移动。 3).两探针测试探针。探头间距1.59mm(其他规格可定制);探针机械游率:±0.3%。 4).探针直径0.8㎜;探针压力总6-12N,探针材料:钨针, 5).探针间及探针与其他部分之间的绝缘电阻大于109欧 12.标配外选购项:a.pc软件1套;b.标准电阻1件;c.电脑和
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